詳細(xì)介紹
一、產(chǎn)品介紹
該系統(tǒng)基于深度優(yōu)化后的隨機散斑跟蹤和數(shù)字圖像相關(guān)(Digital Image Correlation, DIC)算法，具備二維全場變形測量(如應(yīng)變場、位移場、速度場等)、實時多點變形跟蹤兩大功能。
配置于高溫力學(xué)、低溫力學(xué)試驗系統(tǒng)上，可進行高溫或低溫環(huán)境下的力學(xué)性能試驗中材料變形測試。
配置于高溫力學(xué)、低溫力學(xué)試驗系統(tǒng)上，可進行高溫或低溫環(huán)境下的力學(xué)性能試驗中材料變形測試。
該系統(tǒng)由工業(yè)相機、鏡頭、電源、標(biāo)定板、三腳架及云臺、LED照明光源等組成。
相機選用德國Allied Visino Technologies 公司生產(chǎn)的1394接口照相機，鏡頭采用日本Mytron公司及日本Computar公司生產(chǎn)的低畸變鏡頭。
軟件包含支持32位和64位操作系統(tǒng)，分為兩點測量、二維變形場測量和實時兩點測量三部分，功能區(qū)包含8個子菜單對應(yīng)的35和小菜單，7組26個快捷按鈕。包含前處理窗口、后處理窗口、兩點測量曲線窗口、ROI（感興趣區(qū)域）直方圖窗口等。
二、主要技術(shù)參數(shù)
位移精度：
理論圖像的像素精度：1/200像素
應(yīng)變精度：
室溫下按標(biāo)距長度1000像素計算，工程應(yīng)變的理論精度為10微應(yīng)變。
應(yīng)變測量范圍：0.01%到100%
系統(tǒng)分辨率：≤1μm
三、操作界面實例展示
二維場測量主界面實例
兩點測量及實時測量主界面
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